Lu Y., Zheng J., Cai C., Liu Z., Fan F., Guo Y., Bai C., Liang Y., Yan X.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, IBAD process, substrate Hastelloy, buffer layers, cap layers, magnetron sputtering, films epitaxial, fabrication, X-ray diffraction, Raman spectroscopy, microstructure, critical caracteristics, critical current density, YBCO
SpringerPlus, 2016, v.5, N , p.1908
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.